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  • 无铅电子装配的材料及工艺考虑
  • 发布日期时间:2006/12/19  来源:毕业论文   点击数:  作者:佚名
为分析 Sn/Ag/Cu 和 Sn/Cu 的可靠性,对它们进行各种热和机械疲劳试验。试验描述和试验结果如下:

热循环试验结果

测试板用 Sn/Cu0.7、Sn/Ag4/Cu0.5 和 Sn/Ag2.5/Cu0.7/Sb0.5,以及 1206 薄膜电阻器制作。之后在 - 40℃到 125℃的温度范围内,以 300、400、500 次的 15 分钟循环量对该板施以热冲击。然后将焊点分切,检查是否存在裂痕。
试验后检查的结果显示,Sn/Cu 合金由于润湿性不好,导致某些断裂焊点的产生。此外,成形很好的 Sn/Cu 焊点在施以第三种 500 次重复循环设置的试验时,也显示有断裂。
有意思的是,Sn/Ag4/Cu0.5 和 Sn/Ag2.5/Cu0.7/Sb0.5 合金在经历高达 500 次重复的试验后,没有任何断裂迹象。这显示出 Sn/Ag/Cu 合金具有 Sn/Cu 无法比拟的极为优异的耐热疲劳性。但需要注意的是,Sn/Ag4/Cu0.5 合金在经过热循环处理后,焊点的晶粒(grain)结构的确产生了一些变化。

机械强度 - 挠性测试

测试板用 Sn/Cu0.7、Sn/Ag4/Cu0.5 和 Sn/Ag2.5/Cu0.7/Sb0.5,以及 1206 薄膜电阻器制作,对它进行挠性测试。用 Sn/Cu0.7 制作的焊点在挠性测试中产生断裂,这显示焊点不能承受大范围的机械应力处理。相反,由 Sn/Ag4/Cu0.5 和 Sn/Ag2.5/Cu0.7/Sb0.5 制作的焊点却满足所有的挠性测试要求。

混合解决方案?

为消除电子行业存在的隐患,已开发出了一种完全无铅装配的混合解决方案。它用粗糙的锡铅成品(QFP 208 IC)、有机表面保护剂 PWB 和 Sn/Ag2.5/Cu0.7/Sb0.5 合金焊膏构成系统,以复杂性或成本都不太高的方式达到了完全无铅装配的目的。取得成功的关键是,这种装配方法能够承受峰值温度为 234℃的回流加热。需要注意的是,这种装配方法要经过惰性环境的处理。当然,限于元件的效用性问题,以及由元件热容、夹具固定等原因引起的温度变化,造成事实上不是所有的装配过程都能达到 234℃的峰值板温度,因此不是所有装配都能够进行上述处理。但它给我们的重要提示是,在某些情形下,通过引入某些材料,实现无铅焊接可以变得轻而易举。

结论

无铅焊接问题已受到广泛关注。其中有许多是源自对法规环境的担忧和市场行为的推进,由此大大刺激了相关工作的开展,其中一些工作对行业的发展是有益的。
加工和可靠性方面存在的几个问题与 Sn/Cu 合金的使用有关。此外,在同一块电路板上装配使用两种合金也存在问题。如前所述,银是 Sn/Ag/Cu 合金的高成本组份。由于同低银合金比较,高银合金在加工、可靠性或效用性方面没有特别优势,因此在所有焊接应用中使用不太昂贵的合金才是合情合理的。
事实上,低银合金不存在高银合金潜在的银相变问题,且能改进润湿性,熔融温度也稍低。这种合金可从全球数家制造商处购得。最重要的是,体现着 Sn/Ag/Cu 合金系多种优点的低银 Sn/Ag/Cu 合金,不存在成本局限性问题,因而可在所有的焊料操作中使用。这样便消除了因采用 Sn/Cu 合金和双合金工艺而引发的相关问题。

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